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铝膜测厚仪工作原理简介

发布时间:2012/3/20 来源: 关键词:

铝膜测厚仪又称薄膜测厚仪,涂层测厚仪。

 
    产品简介
 
  随着新型包装材料发展,要去阻透性薄膜上真空趁机大约35NM的铝涂敷层,因而极大提高了薄膜对气体的阻透性,这是因为气体和芳香都不会在金属中相溶,金属层的存在也能保护包装物,使其避光,铝膜的厚度直接影响膜阻透性。因此,测试和控制铝膜厚度就显得尤为重要,铝膜测厚仪广泛应用食品软包装、烟草包装行业中,测试方便迅速。
 
 
  工作原理
 
 
  铝膜测试仪利用涡流原理制造,即被测蒸铝层靠的高频激磁磁场时,感应产生涡电流,因而产生涡流磁场,此涡流磁场反作用于原来激磁磁场,使专感器阻抗发生变化,然后通过检测电路并进行放大,输出与厚度相对应模拟电压。为了减少漂移即减少重复性误差和提高测量准确度,本仪器应用智能功能单片机系统,即对测厚过程中非线性和零漂进行校正,因而提高了测量准确度。
 
 
  技术性能
 
 
  可测量范围 最小测量直径不小于100㎜×200㎜
 
  量程范围: 0-1000埃
 
  分辨率: 10埃
 
  测量准确度: ≤±3%(F.S)
 
  读数重现性: 30埃 (同一测量点)
 
  应用对象: 软包装新材料

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技术支持:苍南君祺网络 浙ICP备09042388号
关键词:镭射镀铝膜/彩色激光镀铝膜/镭射膜 
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